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	1.		集成电路封装可靠性技术订购中著者: 周斌恩云飞陈思出版社: 电子工业出版社出版日期: 2023 文献类型: 图书 , 索书号: 在馆信息电子资源电子资源图书信息概览图书目录试读信息内容简介著者简介
	2.		电子微组装可靠性设计．应用篇订购中著者: 何小琦恩云飞周斌出版社: 电子工业出版社出版日期: 2022 文献类型: 图书 , 索书号: TN605/H396/2 在馆信息电子资源电子资源图书信息概览图书目录试读信息内容简介著者简介
	3.		电子微组装可靠性设计．基础篇订购中著者: 何小琦恩云飞宋芳芳出版社: 电子工业出版社出版日期: 2020.09 文献类型: 图书 , 索书号: TN605/H396 在馆信息电子资源电子资源图书信息概览图书目录试读信息内容简介著者简介
	4.		电子信息技术的理论与应用已借1次. 订购中著者: 孔学东，恩云飞，黄云主编出版社: 国防工业出版社出版日期: 2009 文献类型: 图书 , 索书号: TN01-53/K492 在馆信息电子资源电子资源图书信息概览图书目录试读信息内容简介著者简介
	5.		电子元器件失效分析与典型案例订购中著者: 孔学东，恩云飞主编? 出版社: 国防工业出版社? 出版日期: 2006.9? 文献类型: 图书 , 索书号: 在馆信息电子资源电子资源图书信息概览图书目录试读信息内容简介著者简介
	6.		电子产品故障预测与健康管理:应用构架与实践订购中著者: 孔学东，恩云飞，陆裕东等著出版社: 电子工业出版社出版日期: 2013.11 文献类型: 图书 , 索书号: 在馆信息电子资源电子资源图书信息概览图书目录试读信息内容简介著者简介
	7.		MEMS可靠性订购中著者: 哈策尔出版社: 电子工业出版社出版日期: 2012 文献类型: 图书 , 索书号: TN4/H312 在馆信息电子资源电子资源图书信息概览图书目录试读信息内容简介著者简介
	8.		电子元器件失效分析与典型案例订购中著者: 孔学东出版社: 国防工业出版社出版日期: 2006 文献类型: 图书 , 索书号: TN601/K492 在馆信息电子资源电子资源图书信息概览图书目录试读信息内容简介著者简介
	9.		电子产品的故障预测与健康管理订购中著者: 孔学东出版社: 电子工业出版社出版日期: 2013 文献类型: 图书 , 索书号: TN02/K492 在馆信息电子资源电子资源图书信息概览图书目录试读信息内容简介著者简介
	10.		ESD揭秘订购中著者: 沃尔德曼出版社: 机械工业出版社出版日期: 2014 文献类型: 图书 , 索书号: TN430.2/W822/2 在馆信息电子资源电子资源图书信息概览图书目录试读信息内容简介著者简介